三坐标尺寸测量检测单位

尺寸检测常用于研发阶段的尺寸验证、批量生产中的模组认证和件检测。游标卡尺、千分尺等常规量测工具之尺寸检测数据重复性一般低于三坐标、影像等自动化较高的量测设备。四川纳卡检测可参照样品设计图纸进行尺寸检测编程，适用于大批量生产样品的尺寸抽样或尺寸验证。
表面粗糙度检测
表面粗糙度是指加工表面具有的较小间距和微小峰谷的不平度 。其两波峰或两波谷之间的距离（波距）很小（在1mm以下），它属于微观几何形状误差。
影响：表面粗糙度与机械零件的配合性质、耐磨性、疲劳强度、接触刚度、振动和噪声等有密切关系，对机械产品的使用寿命和可靠性有重要影响。
作用：生产过程控制、预测工件的表现、零件的性能
表面粗糙度参数：Ra、Rz 、Rp 、Rv、Sa、Sz等

微观尺寸是一般是指用三坐标测量机及影像测量机等高精度测量仪器也无法量测尺寸，通常指2μm以下 的尺寸。而随着现代制造工艺和产品设计水平的不断提高，多维曲面的频繁使用，使得逆向测绘变得十分困难。

表面粗糙度参数含义
Ra评定轮廓算术平均偏差：在一个取样长度内纵坐标值的的算术平均值。
Rz轮廓大高度：在一个取样长度内，大轮廓峰高与低轮廓谷深之间的距离。（在GB/T 3505-83版中Rz曾用于表示‘不平度的十点高度’。）
Rt轮廓总高度：在评定长度内大轮廓峰高和低轮廓谷深之间的距离。（由于评定长度≥取样长度，故Rt≥Rz）
Sa评定表面算术平均偏差:在取样面积内纵坐标的的算术平均值。（3D光学干涉法测量出的面粗糙度，适用于Ra≤0.8微米的表面粗糙度）
Rq评定轮廓的均方根差：在一个取样长度内纵坐标的均方根值。
测量方法：探针接触式测量法、光学干涉非接触式测量法
检测设备：2D轮廓扫描仪、3D光学干涉仪

服务项目：
FAI（产品件检验） 
TVR（模具验证） 
CpK （制程能力验证及分析） 
GR&R (量测能力验证及分析）
普通尺寸检测
形位公差检测
成都检测中心拥有一批高精密度的大型检测设备和一批训练有素的检测的团队,能够为客户提供的尺寸检测与形位公差检测服务。
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