尺寸检测
尺寸是零件在生产过程中是基本也是重要的控制要素之一,四川纳卡成都检测中心尺寸检测实验室配备有大量高精度三坐标测量机、影像测量机等尺寸检测设备。可对客户公司产品之零件(模具、塑件、五金件)及治具执行高精密及高速度之几何尺寸和相互位置的量测,同时还可对空间型面进行扫描,绘出轮廓图,为设计、制造和品管等部门提供准确之量测数据 。
微观尺寸检测
采用布鲁克的3D白光干涉仪、东京精密的2D探针轮廓仪、扫描电子显微镜等国际超精密设备,能为企业提供微米、纳米级别的微观尺寸量测、3D形貌扫描分析、非常规尺寸(如微小部件的R角半径、样品表面异常分析等)以及表面粗糙检测等服务,帮助企业解决一系列产品开发、生产过程中出现的各种异常状况,协助企业管控生产质量。
表面粗糙度参数含义
Ra评定轮廓算术平均偏差:在一个取样长度内纵坐标值的的算术平均值。
Rz轮廓大高度:在一个取样长度内,大轮廓峰高与低轮廓谷深之间的距离。(在GB/T 3505-83版中Rz曾用于表示‘不平度的十点高度’。)
Rt轮廓总高度:在评定长度内大轮廓峰高和低轮廓谷深之间的距离。(由于评定长度≥取样长度,故Rt≥Rz)
Sa评定表面算术平均偏差:在取样面积内纵坐标的的算术平均值。(3D光学干涉法测量出的面粗糙度,适用于Ra≤0.8微米的表面粗糙度)
Rq评定轮廓的均方根差:在一个取样长度内纵坐标的均方根值。
测量方法:探针接触式测量法、光学干涉非接触式测量法
检测设备:2D轮廓扫描仪、3D光学干涉仪
主要服务项目:
表面粗糙度测量(Rz、Ra、Rq、Rv、Sa、Sz等参数);
波纹度检测;
机械加工、表面处理等制程;
轮廓尺寸测量、轮廓尺寸验证;
表面失效/缺陷尺寸分析(划痕、白点、表面雾化等);
微观尺寸测量(长宽高、半径、面积、体积等);
透明/半透明膜厚测试;
3D微观表面扫描、3D微观表面缝合扫描;
非常规尺寸测量(微小部件圆角半径、倒角塌边等);
粉末颗粒粒径测量;
产品加工刀纹尺寸测量等。
服务项目:
FAI(产品件检验)
TVR(模具验证)
CpK (制程能力验证及分析)
GR&R (量测能力验证及分析)
普通尺寸检测
形位公差检测
成都检测中心拥有一批高精密度的大型检测设备和一批训练有素的检测的团队,能够为客户提供的尺寸检测与形位公差检测服务。
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