尺寸测量实验室拥有一批高素质的测量工程师和一批Hexagon大型高精密接触式三坐标、德国Werth影像非接触式三坐标、Hexagon高精密关节臂、Atos高精密三维扫描系统(合作设备)、高精度粗糙度仪、高精度测长仪等检测设备。能够为客户提供的测量解决方案(包括:完善的测试数据,合理的程序编写及优化、的技术支持及培训)。
常规尺寸测量服务
(1)长度、宽度、高度、距离、直径、角度、坐标值检测
(2)GDT中直线度、平面度、圆度、圆柱度、形状的单点触测
复杂高精密尺寸测量服务
(1)GDT中直线度、平面度、圆度、圆柱度、形状扫描检测
(2)GDT中垂直度、倾斜度、平行度、位置度、同轴(心)度、对称度、跳动检测
尺寸测量服务(粗糙度)
(1)粗糙度检测可提供波纹图参数, 原始轮廓参数.JIS 标准参数, DIN 标准参数
尺寸测量服务(3D数模比对)
曲面、曲线的线轮廓和面轮廓度检测
3D扫描&逆向工程
根据实体扫描,可测常规尺寸、形位公差及3D色谱分析,也可转为3D实体模型
服务项目:
FAI(产品件检验)
TVR(模具验证)
CpK (制程能力验证及分析)
GR&R (量测能力验证及分析)
普通尺寸检测
形位公差检测
表面粗糙度参数含义
Ra评定轮廓算术平均偏差:在一个取样长度内纵坐标值的的算术平均值。
Rz轮廓大高度:在一个取样长度内,大轮廓峰高与低轮廓谷深之间的距离。(在GB/T 3505-83版中Rz曾用于表示‘不平度的十点高度’。)
Rt轮廓总高度:在评定长度内大轮廓峰高和低轮廓谷深之间的距离。(由于评定长度≥取样长度,故Rt≥Rz)
Sa评定表面算术平均偏差:在取样面积内纵坐标的的算术平均值。(3D光学干涉法测量出的面粗糙度,适用于Ra≤0.8微米的表面粗糙度)
Rq评定轮廓的均方根差:在一个取样长度内纵坐标的均方根值。
测量方法:探针接触式测量法、光学干涉非接触式测量法
检测设备:2D轮廓扫描仪、3D光学干涉仪
微观尺寸检测
采用布鲁克的3D白光干涉仪、东京精密的2D探针轮廓仪、扫描电子显微镜等国际超精密设备,能为企业提供微米、纳米级别的微观尺寸量测、3D形貌扫描分析、非常规尺寸(如微小部件的R角半径、样品表面异常分析等)以及表面粗糙检测等服务,帮助企业解决一系列产品开发、生产过程中出现的各种异常状况,协助企业管控生产质量。
检测量测实验室服务项目:
1.模具验证及分析:
新产品模具尺寸验证
模具承认
件检测
夹治具评估
2.制程验证及分析:
统计制程能量分析
制程相关问题分析及解决
3.量测技术支持:
离线测量程序开发
量测系统能力评估
测量方案提供等
都检测中心3D验证实验室配备有目前市场上的扫描设备ATOS,利用光学拍照定位技术和光栅测量原理及其特的自动拼接技术,拓展出对曲面的检测和外观缺陷分析的能力。同时延伸出逆向工程、机构设计,以满足市场需求。
m.cdyouer.b2b168.com