广安尺寸测量测量后出具检测报告

3D扫描与逆向工程
由于消费性电子产品对其外观曲面的要求越来越高，在曲面光滑性和精度上也有着越来越高的要求，传统的尺寸检测方法已经不能满足其要求。
表面粗糙度参数含义
Ra评定轮廓算术平均偏差：在一个取样长度内纵坐标值的的算术平均值。
Rz轮廓大高度：在一个取样长度内，大轮廓峰高与低轮廓谷深之间的距离。（在GB/T 3505-83版中Rz曾用于表示‘不平度的十点高度’。）
Rt轮廓总高度：在评定长度内大轮廓峰高和低轮廓谷深之间的距离。（由于评定长度≥取样长度，故Rt≥Rz）
Sa评定表面算术平均偏差:在取样面积内纵坐标的的算术平均值。（3D光学干涉法测量出的面粗糙度，适用于Ra≤0.8微米的表面粗糙度）
Rq评定轮廓的均方根差：在一个取样长度内纵坐标的均方根值。
测量方法：探针接触式测量法、光学干涉非接触式测量法
检测设备：2D轮廓扫描仪、3D光学干涉仪

服务项目：
FAI（产品件检验） 
TVR（模具验证） 
CpK （制程能力验证及分析） 
GR&R (量测能力验证及分析）
普通尺寸检测
形位公差检测

检测量测实验室服务项目：
1.模具验证及分析：
新产品模具尺寸验证
模具承认
件检测
夹治具评估
2.制程验证及分析：
统计制程能量分析
制程相关问题分析及解决
3.量测技术支持：
离线测量程序开发
量测系统能力评估
测量方案提供等

微观尺寸是一般是指用三坐标测量机及影像测量机等高精度测量仪器也无法量测尺寸，通常指2μm以下 的尺寸。而随着现代制造工艺和产品设计水平的不断提高，多维曲面的频繁使用，使得逆向测绘变得十分困难。
我们的优势：
的设备：清一色国外进口的高精度尺寸检测设备；
丰富的经验和大地测试容量
快速的测试周期：一般3工作日出具报告；
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