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广元3D形貌扫码尺寸测量检测公司

3D扫描与逆向工程
由于消费性电子产品对其外观曲面的要求越来越高,在曲面光滑性和精度上也有着越来越高的要求,传统的尺寸检测方法已经不能满足其要求。
微观尺寸检测
采用布鲁克的3D白光干涉仪、东京精密的2D探针轮廓仪、扫描电子显微镜等国际超精密设备,能为企业提供微米、纳米级别的微观尺寸量测、3D形貌扫描分析、非常规尺寸(如微小部件的R角半径、样品表面异常分析等)以及表面粗糙检测等服务,帮助企业解决一系列产品开发、生产过程中出现的各种异常状况,协助企业管控生产质量。
广元3D形貌扫码尺寸测量检测公司
检测量测实验室服务项目:
1.模具验证及分析:
新产品模具尺寸验证
模具承认
件检测
夹治具评估
2.制程验证及分析:
统计制程能量分析
制程相关问题分析及解决
3.量测技术支持:
离线测量程序开发
量测系统能力评估
测量方案提供等
广元3D形貌扫码尺寸测量检测公司
微观尺寸是一般是指用三坐标测量机及影像测量机等高精度测量仪器也无法量测尺寸,通常指2μm以下 的尺寸。而随着现代制造工艺和产品设计水平的不断提高,多维曲面的频繁使用,使得逆向测绘变得十分困难。
广元3D形貌扫码尺寸测量检测公司
表面粗糙度参数含义
Ra评定轮廓算术平均偏差:在一个取样长度内纵坐标值的的算术平均值。
Rz轮廓大高度:在一个取样长度内,大轮廓峰高与低轮廓谷深之间的距离。(在GB/T 3505-83版中Rz曾用于表示‘不平度的十点高度’。)
Rt轮廓总高度:在评定长度内大轮廓峰高和低轮廓谷深之间的距离。(由于评定长度≥取样长度,故Rt≥Rz)
Sa评定表面算术平均偏差:在取样面积内纵坐标的的算术平均值。(3D光学干涉法测量出的面粗糙度,适用于Ra≤0.8微米的表面粗糙度)
Rq评定轮廓的均方根差:在一个取样长度内纵坐标的均方根值。
测量方法:探针接触式测量法、光学干涉非接触式测量法
检测设备:2D轮廓扫描仪、3D光学干涉仪
都检测中心3D验证实验室配备有目前市场上的扫描设备ATOS,利用光学拍照定位技术和光栅测量原理及其特的自动拼接技术,拓展出对曲面的检测和外观缺陷分析的能力。同时延伸出逆向工程、机构设计,以满足市场需求。
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