成都国威冠准检测技术有限公司

供应商机

当前所在位置:网站首页 > 供应商机

阿坝三次元尺寸测量

尺寸检测常用于研发阶段的尺寸验证、批量生产中的模组认证和件检测。游标卡尺、千分尺等常规量测工具之尺寸检测数据重复性一般低于三坐标、影像等自动化较高的量测设备。四川纳卡检测可参照样品设计图纸进行尺寸检测编程,适用于大批量生产样品的尺寸抽样或尺寸验证。
采用三维扫描仪能够快速地获得扫描物体的点云数据,通过的运用后期软件,就能准确地获得扫描物体的三维实体数据。表面粗糙度是指零件表面上具有较小间距和微小峰谷所形成的微观几何形状误差。是零件表面评定的重要技术指标之一。表面粗糙度是衡量已加工表面质量的重要标志之一,它对零件的耐磨性、耐腐蚀性、疲劳强度和配合性质都有很大影响。影像测量机通过镭射的探照,可轻松测量样品的小孔直径、样品轮廓等较为复杂的尺寸。
阿坝三次元尺寸测量
微观尺寸检测
采用布鲁克的3D白光干涉仪、东京精密的2D探针轮廓仪、扫描电子显微镜等国际超精密设备,能为企业提供微米、纳米级别的微观尺寸量测、3D形貌扫描分析、非常规尺寸(如微小部件的R角半径、样品表面异常分析等)以及表面粗糙检测等服务,帮助企业解决一系列产品开发、生产过程中出现的各种异常状况,协助企业管控生产质量。
阿坝三次元尺寸测量
服务项目:
FAI(产品件检验) 
TVR(模具验证) 
CpK (制程能力验证及分析) 
GR&R (量测能力验证及分析)
普通尺寸检测
形位公差检测
阿坝三次元尺寸测量
表面粗糙度参数含义
Ra评定轮廓算术平均偏差:在一个取样长度内纵坐标值的的算术平均值。
Rz轮廓大高度:在一个取样长度内,大轮廓峰高与低轮廓谷深之间的距离。(在GB/T 3505-83版中Rz曾用于表示‘不平度的十点高度’。)
Rt轮廓总高度:在评定长度内大轮廓峰高和低轮廓谷深之间的距离。(由于评定长度≥取样长度,故Rt≥Rz)
Sa评定表面算术平均偏差:在取样面积内纵坐标的的算术平均值。(3D光学干涉法测量出的面粗糙度,适用于Ra≤0.8微米的表面粗糙度)
Rq评定轮廓的均方根差:在一个取样长度内纵坐标的均方根值。
测量方法:探针接触式测量法、光学干涉非接触式测量法
检测设备:2D轮廓扫描仪、3D光学干涉仪
我们的优势:
的设备:清一色国外进口的高精度尺寸检测设备;
丰富的经验和大地测试容量
快速的测试周期:一般3工作日出具报告;
m.cdyouer.b2b168.com

返回目录页