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昭通三次元尺寸测量

尺寸检测
尺寸是零件在生产过程中是基本也是重要的控制要素之一,四川纳卡成都检测中心尺寸检测实验室配备有大量高精度三坐标测量机、影像测量机等尺寸检测设备。可对客户公司产品之零件(模具、塑件、五金件)及治具执行高精密及高速度之几何尺寸和相互位置的量测,同时还可对空间型面进行扫描,绘出轮廓图,为设计、制造和品管等部门提供准确之量测数据 。
微观尺寸是一般是指用三坐标测量机及影像测量机等高精度测量仪器也无法量测尺寸,通常指2μm以下 的尺寸。而随着现代制造工艺和产品设计水平的不断提高,多维曲面的频繁使用,使得逆向测绘变得十分困难。
昭通三次元尺寸测量
微观尺寸检测
采用布鲁克的3D白光干涉仪、东京精密的2D探针轮廓仪、扫描电子显微镜等国际超精密设备,能为企业提供微米、纳米级别的微观尺寸量测、3D形貌扫描分析、非常规尺寸(如微小部件的R角半径、样品表面异常分析等)以及表面粗糙检测等服务,帮助企业解决一系列产品开发、生产过程中出现的各种异常状况,协助企业管控生产质量。
昭通三次元尺寸测量
表面粗糙度参数含义
Ra评定轮廓算术平均偏差:在一个取样长度内纵坐标值的的算术平均值。
Rz轮廓大高度:在一个取样长度内,大轮廓峰高与低轮廓谷深之间的距离。(在GB/T 3505-83版中Rz曾用于表示‘不平度的十点高度’。)
Rt轮廓总高度:在评定长度内大轮廓峰高和低轮廓谷深之间的距离。(由于评定长度≥取样长度,故Rt≥Rz)
Sa评定表面算术平均偏差:在取样面积内纵坐标的的算术平均值。(3D光学干涉法测量出的面粗糙度,适用于Ra≤0.8微米的表面粗糙度)
Rq评定轮廓的均方根差:在一个取样长度内纵坐标的均方根值。
测量方法:探针接触式测量法、光学干涉非接触式测量法
检测设备:2D轮廓扫描仪、3D光学干涉仪
昭通三次元尺寸测量
采用三维扫描仪能够快速地获得扫描物体的点云数据,通过的运用后期软件,就能准确地获得扫描物体的三维实体数据。表面粗糙度是指零件表面上具有较小间距和微小峰谷所形成的微观几何形状误差。是零件表面评定的重要技术指标之一。表面粗糙度是衡量已加工表面质量的重要标志之一,它对零件的耐磨性、耐腐蚀性、疲劳强度和配合性质都有很大影响。影像测量机通过镭射的探照,可轻松测量样品的小孔直径、样品轮廓等较为复杂的尺寸。
都检测中心3D验证实验室配备有目前市场上的扫描设备ATOS,利用光学拍照定位技术和光栅测量原理及其特的自动拼接技术,拓展出对曲面的检测和外观缺陷分析的能力。同时延伸出逆向工程、机构设计,以满足市场需求。
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